吉钰纯， 王吉林， 罗志虹

（桂林理工大学 材料科学与工程学院; 有色金属及材料加工新技术教育部重点实验室;广西有色金属隐伏矿床勘查及材料开发协同创新中心， 广西 桂林 541004）

DOI:10.13732/j.issn.1008-5548.2021.04.008

收稿日期： 2020-12-11， 修回日期：2021-03-12，在线出版时间：2021-06-03 11:24。

基金项目：广西高校中青年教师基础能力提升计划项目，编号：2018KY0256；教育部重点实验室开放基金项目，编号：19KF-5。

第一作者简介：吉钰纯(1985—)，女，博士研究生，研究方向为纳米材料。E-mail：chuner_0712@gult.edu.cn。

通信作者简介：王吉林(1985—)，男，博士，副研究员，硕士生导师，研究方向为光电半导体材料与器件。E-mail：jilinwang@glut.edu.cn。

摘要：以碳纳米管负载粒径小于10 nm的铂金纳米颗粒为研究对象，采用热场发射扫描电镜表征其微观形貌，探讨不同的探测器和加速电压对样品成像效果的影响。结果表明，对于同一种探测器，低加速电压测试条件下可获得比较清晰的样品表面细节;在加速电压为1 kV时，使用SE2和InLens探测器无法观测到碳纳米管表面负载的铂金纳米颗粒，而使用ESB探测器可以清晰观察到粒径为3～10 nm的铂金颗粒在碳纳米管上的分布情况。

关键词：碳纳米管；铂金纳米颗粒；热场发射扫描电镜；加速电压；探测器

Abstract：The platinum nanoparticles with diameter less than 10 nm loaded on carbon nanotubes were used as the research object. The micro morphology was characterized by thermal field emission scanning electron microscope The effects of different detectors and accelerating voltage on the imaging effect of the samples were discussed. The results show that for the same detector,the surface details of samples can be obtained clearly under the condition of low accelerating voltage. When the accelerating voltage is 1 k V,the platinum nanoparticles loaded on the surface of carbon nanotubes can not be observed by using SE2 and In Lens detectors,while the distribution of platinum nanoparticles with the diameter of 3 ～ 10 nm can be clearly observed by using ESB detector.

Keywords：carbon nanotube; platinum nanoparticles; thermal field emission scanning electron microscope; accelerating voltage; detector

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